GB 7014-1986 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用)
作者:标准资料网 时间:2024-05-20 10:35:59 浏览:9307
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 电子器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 调整为SJ/T 10817-1996 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1987-08-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 17页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment-Testsandmeasurements-Part11-10:Climatictests;Test11j:Cold
【原文标准名称】:电子设备连接器.试验和测量.第11-10部分:气候试验.试验11j:低温
【标准号】:IEC60512-11-10-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC48B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;插头和插座连接;元部件;测量技术;连接器;试验;机电学;样品;电子仪器;电插头;机电装置;砂;尘埃;电子设备;电气元件;防尘试验;测量方法;电气工程;测量;机电的
【英文主题词】:Climaticloading;Climatictests;Coldness;Components;Connectors;Detailspecification;Dust;Dusttests;Electricplugs;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electromechanical;Electromechanicaldevices;Electromechanics;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Low-temperaturebehaviour;Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Plug-and-socketconnection;Sand;Specimens;Stress;Temperaturetest;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60512,whenrequiredbythedetailspecification,isusedfortestingelectromechanicalcomponentswithinthescopeofIECtechnicalcommittee48.Thistestmayalsobeusedforsimilardeviceswhenspecifiedinadetailspecification.Theobjectofthistestistodefineastandardtestmethodtoassesstheabilityofcomponentstobestoredand/ortofunctioninaspecifiedmannerunderspecifiedconditionsofcold.
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:英语
Product Code:SAE AMS3193
Title:Silicone Rubber Sponge, Closed Cell, Medium, Extreme Low Temperature
Issuing Committee:Ams B Finishes Processes And Fluids Committee
Scope:This specification covers a silicone rubber sponge in the form of sheet, strip, extrusions, and molded shapes.
